检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GJB1032-1990 电子产品环境应力筛选方法
电子产品和专用装备
环境应力筛选
只测：容积≦0.3m³；温度范围-55℃～85℃；最大温度变化速率（平均值）15℃/min；推力 ≤40kN；频率范围5Hz～2000Hz；最大速度1.8m/s；最大位移76mm。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.16-1986 军用设备环境试验方法 振动试验
电子产品和专用装备
振动试验
不测：大型组合件运输、散装件运输和舰船类。只测：推力≤40kN；频率范围5Hz～2000Hz；最大速度1.8m/s；最大位移76mm。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验
电子产品和专用装备
振动试验
只测：程序Ⅰ和程序Ⅳ，推力≤40kN；频率范围5Hz～2000Hz；最大速度1.8m/s；最大位移76mm
GJB150.18-1986 军用设备环境试验方法 冲击试验
电子产品和专用装备
冲击试验
只测：试验五，试验六，试验七，最大加速度600g；脉宽范围(1～40)ms。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验
电子产品和专用装备
冲击试验
只测：后峰锯齿波，脉冲持续时间（5～18）ms，冲击峰值加速度（15～100)g
GJB150.2-1986 军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验
电子产品和专用装备
低气压（高度）试验
不测：快速减压。只测：容积≤1.5m³；温度范围-55℃～85℃；大气压范围常压～1kPa。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分： 低气压（高度）试验
电子产品和专用装备
低气压（高度）试验
只测：程序I-贮存/空运、程序Ⅱ-工作/机外挂飞。容积≤1.5m³，温度范围-55℃～85℃，大气压范围常压～1kPa
GJB150.3-1986 军用设备环境试验方法 高温试验
电子产品和专用装备
高温试验
只测：容积≦2m³；温度范围：室温～85℃。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
电子产品和专用装备
高温试验
只测：恒温工作和恒温贮存。容积≦2m³；温度范围：室温～85℃
GJB150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验
电子产品和专用装备
低温试验
只测：容积≦2m³；温度范围-55℃～室温。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
电子产品和专用装备
低温试验
只测：程序Ⅰ和程序Ⅱ。容积≦2m³；温度范围-55℃～室温
GJB150.5-1986 军用设备环境试验方法 冲击试验
电子产品和专用装备
温度冲击试验
只测：容积≦0.3m³；温度范围-55℃～85℃。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
电子产品和专用装备
温度冲击试验
只测：程序Ⅰ。容积≦0.3m³；温度范围-55℃～85℃
GJB150.9-1986 军用设备环境试验方法 湿热试验
电子产品和专用装备
湿热试验
只测：容积≦2m³；温度范围：室温～60℃；湿度范围：25%RH～95%RH。仅针对特定客户特定产品。
GJB150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验
电子产品和专用装备
湿热试验
只测：容积≦2m³；温度范围：室温～60℃；湿度范围：25%RH～95%RH
GJB360B-2009 方法301 电子及电气元件试验方法
电子及电气元件
介质耐电压
只测：耐压测试范围DC/AC:200V～2kV
GJB360B-2009 方法302 电子及电气元件试验方法
电子及电气元件
绝缘电阻
只测：电阻测量范围1MΩ～9GΩ