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上海晟衡检测技术有限公司

CMA资质认证 CNAS实验室认可有效上海市 · 上海市

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📋 上海晟衡检测技术有限公司 CNAS 检测能力

共 14 项认可能力

检测标准检测对象参数 / 项目限制说明

AEC-Q100-002-REV-E(2013) 人体模型静电放电试验电子元器件及集成电路人体模型静电放电敏感性试验（HBM）只测：-8000V~8000V；不测：参数及功能测试

AEC-Q100-003-REV-E(2003) 机器模型静电放电试验电子元器件及集成电路机器模型静电放电敏感性试验（MM）只测：-2000V~2000V 不测：参数及功能测试

AEC-Q100-004 REV-D（2012）集成电路闩锁测试电子元器件及集成电路集成电路闩锁测试（Latch up）只测：I:-1A~1A V:-100V~100V

AEC-Q100-011 REV-D（2019）充电器件模型静电放电测试电子元器件及集成电路充电器件模型静电放电测试（CDM）只测：-2000V-2000V 不测：参数及功能测试

AEC-Q101-001-REV-A(2005) 人体模型静电放电测试电子元器件及集成电路人体模型静电放电敏感性试验（HBM）只测：-8000V~8000V；不测：参数及功能测试

AEC-Q101-002-REV-A(2005) 机器模型静电放电试验电子元器件及集成电路机器模型静电放电敏感性试验（MM）只测：-2000V~2000V 不测：参数及功能测试

AEC-Q101-005-REV-A(2019) 电容放电模型静电放电测试电子元器件及集成电路充电器件模型静电放电测试（CDM）只测：-2000V~2000V 不测：参数及功能测试

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024 静电放电敏感性试验人体模型（HBM）设备级别电子元器件及集成电路人体模型静电放电敏感性试验（HBM）只测：-8000V~8000V；不测：6.1 参数及功能测试

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2025 充电器件模型静电放电灵敏度测试电子元器件及集成电路充电器件模型静电放电测试（CDM）只测：-2000V~2000V 不测：参数及功能测试

GB/T4937.26-2023 半导体器件机械和气候试验方法第26部分静电放电（ESD)敏感度测试人体模型（HBM) 电子元器件及集成电路人体模型静电放电敏感性测试-元器件等级(HBM) 只测：-8000V~8000V；不测：参数及功能测试

GJB548C-2021 微电子器件试验方法和程序电子元器件及集成电路人体模型静电放电敏感性测试-元器件等级(HBM) 只测：-8000V~8000V；不测：参数及功能测试

GJB548C-2021 微电子器件试验方法和程序电子元器件及集成电路集成电路闩锁测试（Latch up）只测：I:-1A~1A V:-100V~100V

JESD22-A115C(2010) 机器模型静电放电灵敏度测试电子元器件及集成电路机器模型静电放电敏感性试验（MM）只测：- 2000V~2000V; 不测：参数及功能测试

JESD78F.02(2023) 集成电路闩锁测试电子元器件及集成电路集成电路闩锁测试（Latch up）只测：I:-1A~1A V:-100V~100V