检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
JESD22-A101D.01:2021 恒定温湿度偏压寿命试验
电子元器件
恒定温湿度偏压寿命试验
只测： 容量：600*850*800mm 温度：85℃ 湿度：85%RH 电压：0V-1000V 不做标准的测量项目。
JESD22-A102E:2015 高压蒸煮试验
电子元器件
高压蒸煮试验
只测： 容量：748L 温度：121℃ 湿度：100%RH 压力：205kPa
JESD22-A103E.01:2021 高温存储寿命测试
电子元器件
高温存储寿命测试
只测： 容量：400*370*400mm 温度：125℃-175℃
JESD22-A104F:2020 温度循环测试
电子元器件
温度循环测试
只测： 容量：320*148*230mm 温度：-65℃-150℃
JESD22-A108G:2022 高温工作寿命试验
电子元器件
高温工作寿命试验
只测： 容量：600*600*600mm 温度：100℃-175℃ 电压：0V-1000V 不做标准的测量项目。
JESD22-A110E.01:2021 高加速温湿度应力试验
电子元器件
高加速温湿度应力试验
只测： 容量：355*355*426mm 温度：130℃，110℃ 湿度：85%RH，85%RH 压力：230kPa，122kPa 电源：0-30V(4A)0-15V(7A) 不做标准的测量项目。
JESD22-A118B.01:2021 加速抗湿-无偏压高加速温湿度应力试验
电子元器件
加速抗湿-无偏压高加速温湿度应力试验
只测： 容量：355*355*426mm 温度：130℃，110℃ 湿度：85%RH，85%RH 压力：230kPa，122kPa
JESD22-A119A:2015 低温存储寿命测试
电子元器件
低温存储寿命测试
只测： 容量：400*370*400mm 温度：-65℃--40℃