检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GB/T 11461-2013 频谱分析仪通用规范
频谱分析仪
分辨带宽准确度
只测:1Hz~10MHz
GB/T 11461-2013 频谱分析仪通用规范
频谱分析仪
显示刻度保真度
只测:0dB/div~80dB/div
GB/T 11461-2013 频谱分析仪通用规范
频谱分析仪
相位噪声
只测:(-30~-130)dBc/Hz
GB/T 11461-2013 频谱分析仪通用规范
频谱分析仪
频宽准确度
只测:≤50GHz
GB/T 11461-2013 频谱分析仪通用规范
频谱分析仪
频率响应
只测:≤50GHz,0dBm
GB/T 11461-2013 频谱分析仪通用规范
频谱分析仪
频率读出准确度
只测:≤50GHz
GB/T 12114-2013 合成信号发生器
信号发生器
功率
只测:0dBm~20dBm,10kHz~26.5GHz;0dBm~-127dBm,1MHz~1300MHz;0dBm~-100dBm,1300MHz~26.5GHz.
GB/T 12114-2013 合成信号发生器
信号发生器
幅度调制特性
只测:调幅度5%~99%,载波频率1MHz~26.5GHz。
GB/T 12114-2013 合成信号发生器
信号发生器
频率
只测:f≤26.5GHz
GB/T 12114-2013 合成信号发生器
信号发生器
频率调制特性
只测:调频4kHz~400kHz,载波频率1MHz~26.5GHz
GB/T 12114-2013 合成信号发生器
信号发生器
频谱纯度
只测:(-20~-90)dBc
GB/T 15151-2012 频率计数器
微波频率计
准确度
只测:10Hz~50GHz
GB/T 15151-2012 频率计数器
微波频率计
分辨率
GB/T 15151-2012 频率计数器
微波频率计
灵敏度
只测:1mV~2V,10Hz~50GHz
GB/T 15151-2012 频率计数器
微波频率计
频率测量范围
只测:10Hz~50GHz
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
上冲
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
上升时间
只测:350ps~50ns
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
功能正常性
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
参数自动测量
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
垂直灵敏度
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
存储深度
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
幅度精度
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
时基精度
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
时基范围
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
最高实时采样率
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
波形捕获率
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
触发灵敏度
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
输入带宽
只测:≤20GHz
GB/T 15289-2013 数字存储示波器
数字存储示波器
输入通道数
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
交流电压功能准确度
只测:10mV~1000V,10Hz~1MHz
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
交流电压功能稳定度
只测:10mV~1000V,10Hz~1MHz
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
交流电压功能线性度
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
交流电流功能准确度
只测:1mA~10A,10Hz~10kHz
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
交流电流功能稳定度
只测:1mA~10A,10Hz~10kHz
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
交流电流功能线性度
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
波形失真
只测:0.01%~10%,10Hz~100kHz
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
电阻功能准确度
只测:1Ω~100MΩ
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
直流电压功能准确度
只测:±(10mV~1000V)
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
直流电压功能稳定度
只测:±(10mV~1000V)
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
直流电压功能线性度
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
直流电流功能准确度
只测:10uA~10A
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
直流电流功能稳定度
只测:10uA~10A
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
直流电流功能线性度
GB/T 15637-2012 数字多用表校准仪通用技术条件
数字多用表校准仪
频率相对基本误差
只测:10mV~1V,10Hz~1MHz
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
电子产品、专用电子产品
低温试验
只测:温度范围:-55℃~常温 ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GB/T 2423.10-2019 环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。
GB/T 2423.17-2024 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾
电子产品、专用电子产品
盐雾试验
只测:温度35℃;pH值6.5~7.2;盐雾沉降率(1.0~2.0)ml/(h▪80cm<sup>2</sup>)。
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
电子产品、专用电子产品
高温试验
只测:温度范围:常温~+100℃;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压
电子产品、专用电子产品
低气压试验
只测:1Pa~2000Pa,仅限特定用户的特定产品。
GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
电子产品、专用电子产品
恒定湿热试验
只测:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h 循环)
电子产品、专用电子产品
交变湿热试验
只做:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GB/T 2423.5-2019 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm。
GB/T 2423.5-2019 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
电子产品、专用电子产品
碰撞试验
只测:半正弦冲击;最大加速度300m/s<Sup>2</Sup>;脉冲宽度11ms和18ms。
GB/T 2423.7-2018 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec:粗率操作造成的冲击(主要用于设备型样品)
电子产品、专用电子产品
跌落试验
只测:最大载重:100kg ;跌落高度:300mm~1100mm;最大外形尺寸:800mm×700mm×600mm;跌落方向: 面、棱、角。
GB/T 34522-2017 航天器热真空试验方法
电子产品、专用电子产品
热真空试验
只测:压力:常压~6.5x10<sup>-5</sup>Pa;温度:-70℃~+150℃;尺寸:φ2.0m×1.6m。
GB/T 6587-2012 电子测量仪器通用规范
电子产品、专用电子产品
低温试验
只测:温度范围:-55℃~常温;容积:1m<sup>3</sup> 。
GB/T 6587-2012 电子测量仪器通用规范
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm。
GB/T 6587-2012 电子测量仪器通用规范
电子产品、专用电子产品
恒定湿热试验
只测:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GB/T 6587-2012 电子测量仪器通用规范
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。
GB/T 6587-2012 电子测量仪器通用规范
电子产品、专用电子产品
跌落试验
只测:最大载重:100kg ;跌落高度:300mm~1100mm;最大外形尺寸:800mm×700mm×600mm;跌落方向: 面、棱、角。
GB/T 6587-2012 电子测量仪器通用规范
电子产品、专用电子产品
高温试验
只测:温度范围:常温~+100℃;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 1027A-2020 运载器、上面级和航天器试验要求
电子产品、专用电子产品
热真空试验
只测:压力:常压~6.5x10<sup>-5</sup>Pa;温度:-70℃~+150℃;尺寸:φ2.0m×1.6m。
GJB 1032A-2020 电子产品环境应力筛选方法
电子产品、专用电子产品
环境应力筛选
只测:容积:≤0.5m<sup>3</sup>;温度范围:-70℃~+150℃;推力:≤60kN;加速度:≤980m/s<sup>2</sup>;位移:≤100mm;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;频率:1Hz~2600Hz。
GJB 150.11A-2009 军用装备实验室环境试验 方法 第11部分:盐雾试验
电子产品、专用电子产品
盐雾试验
只测:温度35℃;pH值6.5~7.2;盐雾沉降率(1.0~2.0)ml/(h▪80cm<sup>2</sup>);仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法-第16部分:振动试验
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.18-1986 军用设备环境试验方法 冲击试验
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm;仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm;仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.2A-2009 低气压(高度)试验方法
电子产品、专用电子产品
低气压试验
只测:1Pa~2000Pa;仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法-第3部分:高温试验
电子产品、专用电子产品
高温试验
只测:温度范围:常温~+100℃;容积:≤1m<sup>3</sup> ;仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法-第4部分:低温试验
电子产品、专用电子产品
低温试验
只测:温度范围:-55℃~常温;容积:≤1m<sup>3</sup> ;仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
电子产品、专用电子产品
温度变化试验
只测:容积:≤1m<sup>3</sup>;温度范围:-60℃~+150℃;仅限特定用户的特定产品。
GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验
电子产品、专用电子产品
交变湿热试验
只测:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> ;仅限特定用户的特定产品。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
交变湿热试验
只做:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
低温试验
只测:温度范围:-55℃~常温 ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
恒定湿热试验
只测:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
盐雾试验
只测:温度35℃;pH值6.5~7.2;盐雾沉降率(1.0~2.0)ml/(h▪80cm<sup>2</sup>)。
GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分:环境适应性要求和试验方法
电子产品、专用电子产品
高温试验
只测:温度范围:常温~+100℃;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
交变湿热试验
只做:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
低温试验
只测:温度范围:-55℃~常温 ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
恒定湿热试验
只测:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
盐雾试验
只测:温度35℃;pH值6.5~7.2;盐雾沉降率(1.0~2.0)ml/(h▪80cm<sup>2</sup>)。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
碰撞试验
只测:半正弦冲击;最大加速度300m/s<Sup>2</Sup>;脉冲宽度11ms和18ms。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
运输试验
只测:试件最大重量:300kg;台面尺寸:2200mm×1100mm ; 三级路面,速度35km/h。
GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范
电子产品、专用电子产品
高温试验
只测:温度范围:常温~+100℃;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm。
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法
电子产品、专用电子产品
振动试验
只做:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法
电子产品、专用电子产品
温度变化试验
只测:容积:≤1m<sup>3</sup>,温度范围:-60℃~+150℃。
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法
电子产品、专用电子产品
高温试验
只测:温度范围:+10℃~+300℃;容积:≤0.2m<sup>3</sup> ;温度范围:常温~+100℃;容积:≤1m<sup>3</sup> 。
GJB 367A-2001 通信设备通用规范
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm。
GJB 367A-2001 通信设备通用规范
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm。
GJB 3758-1999 军用电子产品热真空试验方法
电子产品、专用电子产品
热真空试验
只测:压力:常压~6.5x10<sup>-5</sup>Pa;温度:-70℃~+150℃;尺寸:φ2.0m×1.6m。仅限特定用户的特定产品。
GJB 3947A-2009 电子测试设备通用规范
电子产品、专用电子产品
交变湿热试验
只测:温度范围:+25℃~+60℃;湿度范围:25%RH~95%RH;速率:≤15℃/ min ;容积:≤1m<sup>3</sup> ;仅限特定用户的特定产品。
GJB 3947A-2009 电子测试设备通用规范
电子产品、专用电子产品
介质强度试验
只测:最大交直流电压<10kV;仅限特定用户的特定产品。
GJB 3947A-2009 电子测试设备通用规范
电子产品、专用电子产品
低温试验
只测:温度范围:-55℃~常温;容积:≤1m<sup>3</sup> ;仅限特定用户的特定产品。
GJB 3947A-2009 电子测试设备通用规范
电子产品、专用电子产品
冲击试验
只测:加速度:≤1000m/s<sup>2</sup>;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;波形:半正弦波、后峰锯齿波、梯型波;脉宽:6mm~18mm;仅限特定用户的特定产品。
GJB 3947A-2009 电子测试设备通用规范
电子产品、专用电子产品
振动试验
只测:频率:1Hz~2600Hz;加速度:≤980m/s<SUP>2</SUP>;位移:≤100mm;推力:≤60kN;工作台面尺寸:≤1000mm×1000mm;仅限特定用户的特定产品。