检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GB 50073-2013 洁净厂房设计规范
洁净室
悬浮粒子(空气洁净度)
只测：≥0.3μm。
GB 50073-2013 洁净厂房设计规范
洁净室
静压差
GB 50073-2013 洁净厂房设计规范
洁净室
风速
GB 50073-2013 洁净厂房设计规范
洁净室
风量
GB 50073-2013 洁净厂房设计规范
洁净室
高效过滤器检漏
只用：粒子计数器法。
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
噪声
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
悬浮粒子(空气洁净度)
只测：≥0.3μm。
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
温度
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
湿度
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
照度
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
静压差
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
风速
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
风量
GB 50591-2010 洁净室施工及验收规范
洁净室
高效过滤器检漏
只用：粒子计数器法。
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
噪声
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
悬浮粒子(空气洁净度)
只测： ≥0.3μm。
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
温度
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
湿度
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
照度
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
静压差
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
风速
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
风量
GB 51110-2015 洁净厂房施工及质量验收规范
洁净室
高效过滤器检漏
只用：粒子计数器法。
GB/T 12190-2021 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法
屏蔽室
*屏蔽效能
GB/T 12642-2013 工业机器人 性能规范及其试验方法
工业机器人
*位姿准确度
GB/T 12642-2013 工业机器人 性能规范及其试验方法
工业机器人
*位置轨迹准确度
GB/T 12642-2013 工业机器人 性能规范及其试验方法
工业机器人
*距离准确度
GB/T 128B-2021 半导体分立器件试验方法
晶体管
集电极-发射极击穿电压V<Sub>(BR)CEO</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
关断时间t<Sub>off</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通态漏电流I<Sub>DS</Sub><Sub>（</Sub><Sub>on</Sub><Sub>）</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻R<Sub>on</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
开启时间t<Sub>on</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub><Sub>（</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub>
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub><Sub>（</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub>
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
模拟乘法器
共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
模拟乘法器
建立时间t<Sub>set</Sub>
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
模拟乘法器
标度因子误差E<Sub>K</Sub>
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
模拟乘法器
线形误差E<Sub>L</Sub>（E<Sub>LX</Sub>,E<Sub>LY</Sub>）
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
模拟乘法器
转换速率S<Sub>R</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
复位电压V<Sub>R</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
复位触发电流I<Sub>R</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
控制端电压V<Sub>C</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
触发电压V<Sub>TR</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
触发电流I<Sub>TR</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
阈值电压V<Sub>T</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
阈值电流I<Sub>T</Sub>
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
半导体集成电路时基电路
静态电源电流I<Sub>+</Sub>
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
半导体集成电路采样/保持放大器
增益误差E<Sub>G</Sub>
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
半导体集成电路采样/保持放大器
采样-保持失调电压V<Sub>OO（S-H）</Sub>
GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件
光电耦合器
电流传输比h<Sub>F(ctr)</Sub>
GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件
光电耦合器
集电极-发射极饱和电压V<Sub>CE(sat)</Sub>
GB/T 17421.2-2023 机床检验通则 第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定
数控机床
*回转轴线的定位精度和重复定位精度
GB/T 17421.2-2023 机床检验通则 第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定
数控机床
*线性轴线的定位精度和重复定位精度
GB/T 17949.1-2000 接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则 第1部分：常规测量
接地阻抗
*接地阻抗
只能用三点法和电位降法
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
位置度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
倾斜度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
全跳动
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
同轴度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
圆度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
圆柱度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
圆跳动
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
垂直度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
对称度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
平行度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
平面度
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范（GPS） 几何公差 检测与验证
机械零件
直线度
GB/T 3048.4-2007 电线电缆电性能试验方法 第4部分:导体直流电阻试验
安装线缆（非高频）
导体电阻
GB/T 3048.5-2007 电线电缆电性能试验方法 第5部分：绝缘电阻试验
安装线缆（非高频）
绝缘电阻
GB/T 3048.8-2007 电线电缆电性能试验方法 第8部分：交流电压试验
安装线缆（非高频）
交流电压试验
GB/T 3177-2009 产品几何技术规范（GPS） 光滑工件尺寸的检验
机械零件
线性尺寸
GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法
半导体集成电路电压调整器
基准电压V<Sub>REF</Sub>
GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法
半导体集成电路电压调整器
消耗电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>
GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法
半导体集成电路电压调整器
电压调整率S<Sub>V</Sub>
GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法
半导体集成电路电压调整器
电流调整率S<Sub>I</Sub>
GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法
半导体集成电路电压调整器
输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>
GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管
场效应晶体管
栅-源阈值电压V<Sub>GS(th)</Sub>
GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管
场效应晶体管
栅极截止电流I<Sub>GSS</Sub>
GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管
场效应晶体管
静态漏-源通态电阻R<Sub>DS(on)</Sub>
GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范
固定电阻器
外观和尺寸检查
GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范
固定电阻器
电阻值
GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范
电子及电气元件
标志耐溶剂性
GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
二极管
反向电流I<Sub>R</Sub>
GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
二极管
工作电压V<Sub>z</Sub>
GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
二极管
微分电阻r<Sub>z</Sub>
GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
二极管
正向电压V<Sub>F</Sub>
GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
场效应晶体管
源-漏二极管正向压降V<Sub>SD</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
开环电压增益A<Sub>VD</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
输入失调电压V<Sub>IO</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
半导体集成电路电压比较器
静态功耗P<Sub>D</Sub>
GB/T 8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
固定电感器
品质因数
GB/T 8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
固定电感器
外观检查
GB/T 8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
固定电感器
尺寸的测量和检验
GB/T 8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
固定电感器
有效电感
GB/T 8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
固定电感器
绕阻直流电阻