检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
JEDEC JESD22-A101D.01:2021 恒定温湿度寿命试验
集成电路产品
恒定温湿度寿命试验
只测：温度：+85℃±2℃；相对湿度：85%RH±5%RH；电压0V～200V，不加动态信号，箱体内腔尺寸：630mm x 400mm x 900mm。不测：电性能参数。
JEDEC JESD22-A103E.01:2021 高温存储寿命试验
集成电路产品
高温存储寿命试验
只测：温度：+60℃～+180℃；箱体内腔尺寸：800mm x800mm x800mm。不测：电性能参数。
JEDEC JESD22-A104F.01:2023 温度循环试验
集成电路产品
温度循环试验
只测：空气介质法， 温度：（-65℃~+150℃）；箱体内腔尺寸：630mm x540mm x 690mm。不测：电性能参数。
JEDEC JESD22-A108G:2022 温度偏压寿命试验
集成电路产品
温度偏压寿命试验
只测：高温工作寿命，温度：+40℃～150℃，电压：0V～200V；箱体内腔尺寸：800mm x800mm x800mm。不测：电性能参数。
JEDEC JESD22-A110E.01:2021 高加速温湿度应力试验
集成电路产品
高加速温湿度应力试验
只测：温湿度和压力：（+130℃±2℃，85%RH±5%RH，230kPa）和（+110℃±2℃，85%RH±5%RH，122kPa)；电压：0V～200V；箱体内腔尺寸：340mm x 475mm (40L)。不测：电性能参数。
JEDEC JESD22-A118B.01:2021 加速防潮试验-无偏压高加速试验
集成电路产品
无偏压高加速试验
只测：温湿度和压力：（+130℃±2℃，85%RH±5%RH，230kPa）和（+110℃±2℃，85%RH±5%RH，122kPa)；箱体内腔尺寸：340mm x 475mm (40L); 不测：电性能参数。