检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
EIA-364-04B-2015 电子连接器正向力试验程序
电子及电气零组件
正向力试验
只测: 方法A，500N以下
EIA-364-06D-2024 电子连接器的接触阻抗试验程序
电子及电气零组件
接触电阻试验
EIA-364-08C-2015 电子连接器的压接强度试验程序
电子及电气零组件
压接强度试验
只测：压接强度 ≤1000N
EIA-364-13E-2011(R2023) 电子连接器及插座的插入力和拔出力试验程序
电子及电气零组件
插拔力试验
只测: 方法A 500N以下
EIA-364-17C-2011(R2023) 电子连接器及插座的高温寿命试验程序(有或无电气负荷)
电子及电气零组件
高温试验
只测: 40℃～200℃ 体积：600mm×600mm×600mm
EIA-364-20F-2019(R 2024) 电子连接器,插座及同轴端子的耐电压试验程序
电子及电气零组件
耐电压试验
只测: 试验电压：AC≦5000V、DC≦6000V
EIA-364-21F-2020 电子连接器，插座及同轴端子的绝缘电阻试验程序
电子及电气零组件
绝缘电阻试验
只测: DC（100V～1000V）
EIA-364-23E-2024 电子连接器及插座的低电平接触电阻试验程序
电子及电气零组件
低电平接触电阻试验
只测: 选项 1
EIA-364-26C-2014 电子连接器，端子及插座的盐雾试验程序
电子及电气零组件
盐雾试验
只测： 体积：1100mm×600mm×400mm
EIA-364-27D-2023 电子连接器及插座的机械冲击(规定脉冲)试验程序
电子及电气零组件
机械冲击试验
只测: 半正弦波形, 加速度≦500g, 样品重量≦22kg
EIA-364-28F-2011 （R2023) 电子连接器及插座的振动试验程序
电子及电气零组件
振动试验
只测: 频率≦2000Hz, 加速度≦30g, 样品重量≦70kg
EIA-364-29E-2023 电子连接器的端子保持力试验程序
电子及电气零组件
端子保持力试验
只测: 500N以下。
EIA-364-31F-2019 电子连接器及插座的潮湿试验程序
电子及电气零组件
温湿度循环试验
只测: -10℃～+65℃, (20～95)% RH 只测: 方法II和方法IV 体积：500mm×600mm×400mm；该标准已被替代，仅限特定用户使用。
EIA-364-32H-2023 电子连接器及插座的热冲击(温度循环)试验程序
电子及电气零组件
冷热冲击试验
只测: -70℃～0℃ , +60℃～+200℃ 只做: 方法A 体积：400mm×400mm×356mm
EIA-364-55B-2020 电子连接器及插座的过载电流通断循环试验程序
电子及电气零组件
过载电流通断循环试验
只测：电流≤100A
EIA-364-59A-2006 (R2013) 电子连接器及插座的低温试验程序
电子及电气零组件
低温试验
只测: -55℃ 以上到常温 体积：400mm×400mm×400mm
EIA-364-70D-2021 电子连接器及插座的温升-载流试验程序
电子及电气零组件
温升试验
GB/T 4340.1:2024 金属材料 维氏硬度试验 第1部分：试验方法
金属材料及制品
硬度试验
只测：HV0.1和HV0.3。不测：球面、圆柱面试验。
IEC 60068-2-11(Edition 4.0):2021 基本环境试验程序 第二部分：试验Ka：盐雾
电子及电气零组件
盐雾试验
只测： 体积：1100mm×600mm×400mm
IEC 60068-2-1(Sixth edition): 2007 环境试验-第2-1部分:试验-试验A:低温
电子及电气零组件
低温试验
只测: -55℃ 以上到常温 体积：400mm×400mm×400mm
IEC 60068-2-14 (Edition 7.0): 2023 环境试验-第2-14部分:试验-试验N:温度变化
电子及电气零组件
冷热冲击试验
只测: Na和Nb （Nb温度变化速率：15 K/min及以下）。 体积：400mm×400mm×356mm
IEC 60068-2-2 (Fifth edition): 2007 环境试验-第2-2部分:试验-试验B:高温
电子及电气零组件
高温试验
只测: 40℃～200℃ 体积：600mm×600mm×600mm
IEC 60068-2-27 (Edition 4.0): 2008 环境试验--第2-27部分:试验-试验Ea和指南: 冲击
电子及电气零组件
机械冲击试验
只测: 半正弦波形, 加速度≦500g, 样品重量≦22kg
IEC 60068-2-30 (Edition 3.0): 2005 环境试验-第2-30部分:试验-试验Db:湿热循环(12+12小时循环)
电子及电气零组件
温湿度循环试验
只测: +25℃～+55℃, (50～95)% RH 体积：500mm×600mm×400mm；该标准已被替代，仅限特定用户使用。
IEC 60068-2-38 (Edition 3.0): 2021 环境试验-第2-38部分:试验-试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
电子及电气零组件
温湿度循环试验
只测: -10℃～+65℃, (50～95)% RH 体积：500mm×600mm×400mm
IEC 60068-2-6 (Edition 7.0): 2007 环境试验-第2-6部分:试验-试验Fc:振动(正弦)
电子及电气零组件
振动试验
只测: 频率≦2000Hz, 加速度≦30g, 样品重量≦70kg
IEC 60068-2-64 (Edition 2.1):2019 环境试验-第2-64部分:试验-试验Fh:宽带随机振动和导则
电子及电气零组件
振动试验
只测: 频率≦2000Hz, 加速度≦30g, 样品重量≦70kg
IEC 60112 (Edition 4.1): 2009 固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法
电子及电气零组件
耐电痕化试验
该标准已被替代，仅限特定用户使用。
IEC 60512-13-1 (Second edition): 2006 电子设备连接器-试验和测量-第13-1部分:机械操作试验-试验13a:插入力和拔出力
电子及电气零组件
插拔力试验
只测: 500N以下
IEC 60512-15-1 (Edition 1.0): 2008 电子设备连接器-试验和测量-第15-1部分:连接器试验(机械的)-试验15a:端子保持力
电子及电气零组件
端子保持力试验
只测: 500N以下
IEC 60512-16-4(Edition 1.0):2008 电子设备连接器-试验和测量-第16-4部分:端子的机械试验-试验16d:抗拉强度试验(压接连接器)
电子及电气零组件
压接强度试验
只测：压接强度≤1000N
IEC 60512-2-1 (First edition): 2002 电子设备连接器-试验和测量-第2-1部分:电子连续性和接触电阻试验-试验2a:接触电阻-毫伏级方法
电子及电气零组件
低电平接触电阻试验
IEC 60512-2-2 (First edition): 2003 电子设备连接器-试验和测量-第2-2部分:电子连续性和接触电阻试验-试验2b:接触电阻-指定测试电流方法
电子及电气零组件
接触电阻试验
IEC 60512-3-1 (First edition): 2002 电子设备连接器-试验和测量-第3-1部分:绝缘试验-试验3a:绝缘电阻
电子及电气零组件
绝缘电阻试验
只测: DC（100V～1000V）
IEC 60512-4-1 (First edition): 2003 电子设备连接器-试验和测量-
电子及电气零组件
耐电压试验
只测: 试验电压：AC≦5000V、DC≦6000V.
IEC 60512-5-1 (First edition): 2002 电子设备连接器-试验和测量-第5-1部分:载流容量试验-试验5a:温升
电子及电气零组件
温升试验
IEC 60512-5-2 (First edition): 2002 电子设备连接器-试验和测量-第5-2部分:载流容量试验-试验5b:电流-温度降额
电子及电气零组件
温升试验
IEC 60512-9-5(Edition 2.0):2020 电子设备连接器-试验和测量-第9-5部分: 忍耐力试验-试验9e: 电流负载循环
电子及电气零组件
过载电流通断循环试验
只测：电流≤100A
IEC 60529 (Edition 2.2) :2013 外壳防护等级
电子及电气零组件
外壳防护等级
只测：IPX5、IPX7
IEC 60695-2-10 (Edition 3.0): 2021 着火风险试验-第2-10: 灼热丝/热丝基本试验方法-灼热丝设备和通用试验程序
电子及电气零组件
灼热丝试验
IEC 60695-2-11 Edition 3.0:2021 着火风险试验-第2-11: 灼热丝/热丝基本试验方法-成品的灼热丝可燃性试验方法
电子及电气零组件
灼热丝试验
ISO 16750-3 - 2023 道路车辆 电气和电子设备的环境条件和试验 第3部分：机械负荷试验:振动试验方法Ⅱ
电子及电气零组件
振动试验
只测: 测试II，频率≦2000Hz, 加速度≦30g, 样品重量≦70kg
ISO 20653:2023 道路车辆 电气电子设备防护等级（IP 代码）
电子及电气零组件
外壳防护等级
只测：IPX7
ISO 6507-1: 2023 金属材料 维氏硬度试验 第1部分：试验方法
金属材料及制品
硬度试验
只测：HV0.1和HV0.3。不测：球面、圆柱面试验。