检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
JESD22-A101D:2015 稳态温度湿度偏置试验
半导体器件
恒温恒湿偏压试验
只测:温度:30℃~85℃, 湿度≤85%RH,箱体内腔尺寸≤600mm×600mm×800mm
JESD22-A103E:2015 高温存储寿命试验
半导体器件
高温存储寿命试验
只测:温度:50℃~200℃,箱体内腔尺寸≤450mm×450mm×450mm
JESD22-A104F.01:2023 温度循环
半导体器件
温度循环试验
只测:温度:-65℃~150℃,箱体内腔尺寸≤400mm×400mm×600mm
JESD22-A108G:2022 高温工作寿命试验
半导体器件
温度、偏压和工作寿命
只测:温度:-40℃~150℃,电压≤30V,箱体内腔尺寸≤250mm×800mm×800mm
JESD22-A110E:2015 高加速寿命试验
半导体器件
高加速温湿度应力试验
只测:温度≤130℃, 湿度≤85%RH,压力≤230kPa,箱内腔体尺寸≤直径400mm×深度600mm
JESD22-A118B:2015 加速耐湿 -无偏置高加速应力试验
半导体器件
无偏压高加速试验
只测:温度≤130℃, 湿度≤85%RH,压力≤230kPa,箱体内腔尺寸≤直径400mm×深度600mm