检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
AEC Q100-008-REV-A-2003 温度,偏置和使用寿命
集成电路
早夭试验
只测：温度：（+20～200）℃ ,试验箱内部尺寸1000mm×1000mm×1000mm
JESD22-A101D.01-2021 高温高湿寿命试验
集成电路
高温高湿寿命试验
只测：温度：（-20～85）℃， 湿度：（40～95）%RH，试验箱内部尺寸500mm×550mm×700mm
JESD22-A103E.01-2021 高温贮存寿命
集成电路
高温存储试验
只测：温度：（+20～200）℃ ,试验箱内部尺寸1000mm×1000mm×1000mm
JESD22-A104F.01-2023 温度循环
集成电路
温度循环试验
只测：温度：（-65～200）℃，试验箱内部尺寸148mm×320mm×230m
JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命
集成电路
高温工作寿命试验
只测：温度：（+20～200）℃ ,试验箱内部尺寸1000mm×1000mm×1000mm
JESD22-A110E.01-2021 高加速温湿度应力试验(HAST)
集成电路
高加速应力寿命试验
只测：温度：（105～142）℃， 湿度：（70~100）%RH，试验箱内部尺寸Ф355mm*426mm
JESD22-A118B.01-2021 加速防潮-无偏HAST
集成电路
高加速应力试验
只测：温度：（105～142）℃， 湿度：（70~100）%RH，试验箱内部尺寸Ф355mm*426mm
JESD22-A119A-2021 低温存储寿命
集成电路
低温存储试验
只测：温度：（-65～180）℃ 湿度：（10-98）%RH，试验箱内部尺寸980mm×1200mm×1000mm