检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
AEC-Q100-008A-2023 早期寿命故障率
电子元器件
早期寿命失效率
只做：温度范围：≤+150℃； 电压≤60V。 不测电性能。 试验箱内尺寸(mm)：800×1200×800
IPC/JEDEC J-STD-020F-2022 非密封固态表面贴装元件湿度-回流焊敏感度分级
电子元器件
湿气敏感等级
只做：温度范围：≤+85℃。试验箱内尺寸(mm)：800×1200×800；不测电性能
JESD22-A101D-2021 稳态湿热偏置试验
电子元器件
高温高湿反偏
只做：温度=85℃，湿度 =85%RH。 试验箱内尺寸(mm)：500×600×750
JESD22-A103E.01-2021 高温贮存寿命
电子元器件
高温试验
只做：温度范围：≤175℃。试验箱内尺寸(mm)：800×1200×800；不测电性能
JESD22-A105D-2020 功率温度循环
电子元器件
功率温度循环
只做：温度范围：-40℃ - 125℃。 试验箱内尺寸(mm)：400 × 400 × 400；不测电性能
JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命
电子元器件
低温工作寿命
只做：温度=-40℃； 电压≤60V。 不测电性能。 试验箱内尺寸(mm)：500×600×750
JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命
电子元器件
早期寿命失效率
只做：温度范围：≤+150℃； 电压≤60V。 不测电性能。 试验箱内尺寸(mm)：800×1200×800
JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命
电子元器件
高温反偏
只做：温度范围：≤+150℃； 电压≤1000V。不测电性能 试验箱内尺寸(mm)：600 × 600 × 600
JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命
电子元器件
高温工作寿命
只做：温度范围：≤+150℃； 电压≤60V。不测电性能。 试验箱内尺寸(mm)：800×1200×800
JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命
电子元器件
高温栅偏
只做：温度范围：≤+150℃； 电压≤1000V。不测电性能 试验箱内尺寸(mm)：600 × 600 × 600
JESD22-A110E.01-2021 高加速温湿度应力试验(HAST)
电子元器件
高速老化寿命试验
只做：温度范围：≤150℃。试验箱内尺寸(mm)：φ 420×D657 (84.4 L)； 不测电性能
JESD22-A113I-2020 非密封表面贴装器件在可靠性测试之前的预处理方法
电子元器件
预处理
只做：温度范围：≤+85℃。 试验箱内尺寸（mm)：800×1200×800；不测电性能
JESD22-A118B.01-2021 加速防潮-无偏HAST
电子元器件
高速老化寿命试验
只做：温度范围：≤150℃; 电压≤60V。不测电性能 试验箱内尺寸(mm)：φ 420×D657 (84.4 L)