检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GJB 1032-90 电子产品环境应力筛选方法
专用装备/机载设备、电子产品
环境应力筛选
只测：容积：≤2.4m³，温度：-40℃～+60℃；温变速率：≤10℃/min；最大推力：34KN；频率范围：5～2000Hz；加速度：≤981m/s²；位移≤51mm；速度≤2m/s；仅适用于特定客户的特定产品
GJB 1032A-2020 电子产品环境应力筛选方法
专用装备/机载设备、电子产品
环境应力筛选
只测：容积：≤2.4m³，温度：-40℃～+60℃；温变速率≤10 ℃/min。最大推力：34KN；频率范围：5～2000Hz；加速度：≤981m/s²；位移≤51mm；速度≤2m/s.
GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
温度冲击试验
只测：容积≤2.4m³, 温度范围：-60 ℃～+80℃
GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
温度冲击试验
只测：一箱法：容积≤10.8m<sup>3</sup>, 温度范围：（-60～80）℃，温度转换时间≤1min
GJB150.16-86 军用设备环境试验方法 振动试验
专用装备/机载设备、电子产品
振动试验
只测；最大推力：160KN；频率范围：5～2000Hz，加速度：≤200m/s²；位移≤51mm；速度≤2m/s；仅适用于特定客户的特定产品，GJB150.16-86的程序Ⅰ、程序Ⅳ
GJB150.16-86 军用设备环境试验方法 振动试验
专用装备/机载设备、电子产品
振动试验
只测；最大推力：160kN；频率范围：（5～2000）Hz，加速度：≤30g；位移≤51mm；速度≤2m/s；仅适用于特定客户的特定产品，GJB150.16-86的程序Ⅰ、程序Ⅳ
GJB150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验
专用装备/机载设备、电子产品
振动试验
只测；最大推力：160KN；频率范围：5～2000Hz，加速度：≤200m/s²；位移≤51mm；速度≤2m/s；GJB150.16A-2009的程序Ⅰ、程序Ⅳ
GJB150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验
专用装备/机载设备、电子产品
振动试验
只测；最大推力：160kN；频率范围：（5～2000）Hz，加速度：≤30g；位移≤51mm；速度≤2m/s；GJB150.16A-2009的程序Ⅰ、程序Ⅳ
GJB150.18-86 军用设备环境试验方法冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
冲击试验
只测：最大推力：160KN；加速度≤600m/s²；脉冲持续时间：（3～30）ms，位移≤51mm，仅适用于特定客户的特定产品，GJB150.18-86试验五、试验六
GJB150.18-86 军用设备环境试验方法冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
冲击试验
只测：最大推力：160kN；半正弦波，加速度≤60g；后峰锯齿波，加速度≤45g；脉冲持续时间：（3～30）ms，仅适用于特定客户的特定产品，GJB150.18-86试验五、试验六
GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
冲击试验
只测：最大推力：160KN；加速度≤200m/s²；脉冲持续时间：（3～30）ms，位移≤51mm，GJB150.18A-2009程序Ⅰ、程序Ⅴ
GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
冲击试验
只测：最大推力：160kN；半正弦波，加速度≤60g；后峰锯齿波，加速度≤45g；脉冲持续时间：（3～30）ms，GJB150.18A-2009程序Ⅰ、程序Ⅴ
GJB150.2-86 军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验
专用装备/机载设备、电子产品
低气压（高度）试验
只做：容积：≤1.2m³，气压范围：常压~10KPa，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分： 低气压（高度）试验
专用装备/机载设备、电子产品
低气压（高度）试验
只测：容积：≤1.2m³，气压范围：常压～10KPa，GJB150.2A-2009的程序Ⅰ、程序Ⅱ
GJB150.3-86 军用设备环境试验方法 高温试验
专用装备/机载设备、电子产品
高温试验
只测：容积：≤10.8m<sup>3</sup>， 温度：常温～80℃，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.3-86 军用设备环境试验方法 高温试验
专用装备/机载设备、电子产品
高温试验
只测：容积：≤12.4m³ 温度：常温～80℃，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
专用装备/机载设备、电子产品
高温试验
只测：容积：≤10.8m<sup>3</sup>，温度：常温～80℃，只做恒温贮存和恒温工作
GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
专用装备/机载设备、电子产品
高温试验
只测：容积：≤12.4m³ 温度：常温～80℃
GJB150.4-86 军用设备环境试验方法 低温试验
专用装备/机载设备、电子产品
低温试验
只测：容积≤10.8m<sup>3</sup>，温度：-60℃～常温，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.4-86 军用设备环境试验方法 低温试验
专用装备/机载设备、电子产品
低温试验
只测：容积≤12.4m³，温度：-60℃～常温，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
专用装备/机载设备、电子产品
低温试验
只测：容积≤10.8m<sup>3</sup>，温度：-60℃～常温，GJB150.4A-2009的程序Ⅰ、程序Ⅱ
GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
专用装备/机载设备、电子产品
低温试验
只测：容积≤12.4m³，温度：-60℃～常温，GJB150.4A-2009的程序Ⅰ、程序Ⅱ
GJB150.5-86 军用设备环境试验方法 温度冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
温度冲击试验
只测：一箱法：容积≤10.8m<sup>3</sup>, 温度范围：（-60～80）℃，温度转换时间≤5min，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.5-86 军用设备环境试验方法 温度冲击试验
专用装备/机载设备、电子产品
温度冲击试验
只测：容积≤2.4m³, 温度范围：-60 ℃～+80℃，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.6-86 军用设备环境试验方法温度-高度试验
专用装备/机载设备、电子产品
温度-高度试验
只测：容积≤1.2m³, 温度范围：-60 ℃～+80℃，气压范围：常压～10KPa,仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.9-86 军用设备环境试验方法 湿热试验
专用装备/机载设备、电子产品
湿热试验
只测：容积≤2.4m³，温度范围：+20℃~+80℃，相对湿度范围：20%~95%RH，仅适用于特定客户的特定产品
GJB150.9A -2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分： 湿热试验
专用装备/机载设备、电子产品
湿热试验
只测：容积≤2.4m³