首页› 全国检测机构› 湖北省检测机构› 湖北华远检测技术有限公司

湖北华远检测技术有限公司

CMA资质认证 CNAS实验室认可有效湖北省

资质证书	2217****42
CNAS认可证书	L15591
机构地址	武汉东湖新技术开发区流芳园横路3号东一产业园电子装备车间
发证机关	湖北省市场监督管理局
联系人	穆*飞
联系电话	138****5202 完整号码请咨询获取

📍 机构位置在新窗口打开地图 →

💡 需要委托这家机构做检测？

提交您的检测需求（样品、项目、预算），平台为您对接湖北华远检测技术有限公司或同资质优选机构，获取报价与检测方案。

📋 湖北华远检测技术有限公司 CNAS 检测能力

共 111 项认可能力

检测标准检测对象参数 / 项目限制说明

GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温电子电气产品及元器件低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温电子电气产品及元器件高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GB/T 2423.22-2012 环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化电子电气产品及元器件温度循环（空气-空气）只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min

GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db：交变湿热（12h+12h 循环）电子电气产品及元器件耐湿试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GB/T 2423.50-2012 环境试验试验方法试验Cy 恒定湿热电子电气产品及元器件稳态湿热只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范固定电容器介质耐电压只测：交流电： 1kV～5kV；直流电: 1V～6kV。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范固定电容器损耗角正切只测：电容量： 100pF～100μF。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范固定电容器电容量只测：电容量： 100pF～100μF。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第1部分：总规范固定电容器绝缘电阻只测：绝缘电阻： 100kΩ～1TΩ。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管二极管反向电流只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A

GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管二极管正向电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A

GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法半导体集成电路（稳压器）电压调整率只测：电压：-1000V～1000V 电流：-100A～100A

GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法半导体集成电路（稳压器）电流调整率只测：电压：-1000V～1000V 电流：-100A～100A

GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法半导体集成电路（稳压器）纹波抑制比只测：电压：-1000V～1000V 电流：-100A～100A

GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法半导体集成电路（稳压器）耗散电流只测：电压：-1000V～1000V 电流：-100A～100A

GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法半导体集成电路（稳压器）输出电压和输出电压偏差只测：电压：-1000V～1000V 电流：-100A～100A

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管发射极-基极击穿电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管基极-发射极电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管正向电流传输比只测：正向电流传输比： 2～1000000。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管集电极-发射极击穿电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管集电极-发射极饱和电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管集电极-基极击穿电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管双极型晶体管集电极-基极截止电流只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 6346.3-2015 电子设备用固定电容器第3部分：分规范表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器钽电容损耗角正切只测：电容量： 100pF～100μF。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 6346.3-2015 电子设备用固定电容器第3部分：分规范表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器钽电容漏电流只测：漏电流： 1.5μA～20mA。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 6346.3-2015 电子设备用固定电容器第3部分：分规范表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器钽电容电容量只测：电容量： 100pF～100μF。只适用于特定用户与特定产品。

GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管二极管反向电流只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A

GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管二极管正向电压只测：电压： -1000V～1000V；电流： - 100A～100A

GB/T15298-1994 电子设备用电位器第一部分：总规范电位器电阻体阻值只测：电阻： 1mΩ～100MΩ

GB/T15298-1994 电子设备用电位器第一部分：总规范电位器终端电阻只测：电阻： 1mΩ～100MΩ

GB/T15298-1994 电子设备用电位器第一部分：总规范电位器连续性只测：电阻： 1mΩ～100MΩ

GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范电磁继电器动作和释放时间只测： (0～65)ms

GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范电磁继电器动作或自保持/复归、保持和释放电压只测：电压：(1～250)V

GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范电磁继电器线圈电阻只测：电阻：10Ω～25kΩ

GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范电磁继电器触点回跳

GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范电磁继电器静态接触电阻只测：电阻：(10～200)mΩ

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法电子电气产品及元器件温度循环（空气-空气）只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min。只适用于特定用户与特定产品。

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法电子电气产品及元器件电子元器件（寿命试验）只测：工作室尺寸：≤0.6m×0.6m×0.6m；温度范围：常温～+180℃；电压：≤1000V；电流：≤60A。只适用于特定用户与特定产品。

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法电子电气产品及元器件耐湿试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。只适用于特定用户与特定产品。

GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法电子电气产品及元器件高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃。只适用于特定用户与特定产品。

GJB 150.4-1986 军用设备环境试验方法低温试验电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法-第4部分：低温试验电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB 150.5-1986 军用设备环境试验方法温度冲击试验电子电气产品温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验电子电气产品温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min

GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分：环境适应性要求和试验方法电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分：环境适应性要求和试验方法电子电气产品温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min

GJB 1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求.第7部分：环境适应性要求和试验方法电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB 1864A-2011 射频固定和可变片式电感器通用规范固定电感器 Q 值只测：电感量： 100μH～1H

GJB 1864A-2011 射频固定和可变片式电感器通用规范固定电感器电感只测：电感量： 100μH～1H

GJB 2783A-2006 地空导弹制导雷达通用规范电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB 2783A-2006 地空导弹制导雷达通用规范电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法电子电气产品及元器件温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法电子电气产品及元器件电子元器件（寿命试验）只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度：≤180℃；电压：≤1000V；电流：≤8A；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法电子电气产品及元器件稳态湿热只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法电子电气产品及元器件温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法电子电气产品及元器件电子元器件（寿命试验）只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度：≤180℃；电压：≤1000V；电流：≤8A

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法电子电气产品及元器件稳态湿热只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB 367A-2001 通信设备通用规范电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB 367A-2001 通信设备通用规范电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB 367A-2001 通信设备通用规范电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB 4157A-2011 高可靠瓷介固定电容器通用规范固定电容器介质耐电压只测：交流电： 1kV～5kV；直流电: 1V～6kV

GJB 4157A-2011 高可靠瓷介固定电容器通用规范固定电容器损耗角正切只测：电容量： 100pF～100μF

GJB 4157A-2011 高可靠瓷介固定电容器通用规范固定电容器电容量只测：电容量： 100pF～100μF

GJB 4157A-2011 高可靠瓷介固定电容器通用规范固定电容器绝缘电阻只测：绝缘电阻： 100kΩ～1TΩ

GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序电子电气产品及元器件温度循环（空气-空气）只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序电子电气产品及元器件耐湿试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序电子电气产品及元器件高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序电子电气产品及元器件温度循环（空气-空气）只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序电子电气产品及元器件耐湿试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序电子电气产品及元器件高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 548C-2021 微电子器件试验方法与程序电子电气产品及元器件温度循环（空气-空气）只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min

GJB 548C-2021 微电子器件试验方法与程序电子电气产品及元器件耐湿试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB 548C-2021 微电子器件试验方法与程序电子电气产品及元器件高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB 63B-2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范钽电容损耗角正切只测：电容量： 100pF～100μF；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 63B-2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范钽电容漏电流只测：漏电流： 1.5μA～20mA；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 63B-2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范钽电容电容量只测：电容量： 100pF～100μF；只适用于特定用户与特定产品。

GJB 63C-2015 固体电解质钽固定电容器通用规范钽电容损耗角正切只测：电容量： 100pF～100μF

GJB 63C-2015 固体电解质钽固定电容器通用规范钽电容漏电流只测：漏电流： 1.5μA～20mA

GJB 63C-2015 固体电解质钽固定电容器通用规范钽电容电容量只测：电容量：100pF～100μF

GJB 65B-99 有可靠性指标的电磁继电器总规范电子电气产品及元器件温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min。只适用于特定用户与特定产品。

GJB 74A-1998 地面雷达通用规范电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB 74A-1998 地面雷达通用规范电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB 74A-1998 地面雷达通用规范电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB1432B-2009 片式膜固定电阻器通用规范固定电阻器直流电阻只测：电阻： 1mΩ～100MΩ

GJB150.3-1986 军用设备环境试验方法高温试验电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃；只适用于特定用户与特定产品。

GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB150.9-1986 军用设备环境试验方法湿热试验电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH；只适用于特定用户与特定产品。

GJB150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法第9部分：湿热试验电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB1621.7A-2006 技术侦察装备通用技术要求第7部分环境适应性要求和试验方法电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范电子电气产品温度冲击试验只测：工作室尺寸：≤1m×0.5m×0.7m；温度范围：-65℃～+180℃ 转换时间＜1min

GJB2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB2783A-2006 地空导弹制导雷达通用规范电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB4.2-1983 舰船电子设备环境试验高温试验电子电气产品高温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤180℃

GJB4.3-1983 舰船电子设备环境试验低温试验电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB4.4-1983 舰船电子设备环境试验低温贮存试验电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

GJB4.5-1983 《舰船电子设备环境试验恒定湿热试验》电子电气产品湿热试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB5440-2005 《过载传感器通用规范》电子电气产品及元器件耐湿试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：≤+85℃；湿度范围：≤95%RH。

GJB5727-2006 《后勤装备高温低温湿热试验室试验方法》电子电气产品低温试验只测：工作室尺寸：≤1m×1m×1m；温度范围：-65℃～常温

湖北华远检测技术有限公司

💡 需要委托这家机构做检测？

📋 湖北华远检测技术有限公司 CNAS 检测能力

湖北省更多检测机构

发布检测需求