检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GB/T 10125-2021 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验
金属材料及制品
盐雾腐蚀
只测： 温度35~50°C 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）1200mm*800mm*500mm
GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
金属材料及制品
金属镀层厚度
只测：Au 0～1.08μm；Sn 0～3.23μm；Ni 0～4.16μm ；Ag 0～2.47μm；Pd 0～0.12μm；Cu 0～3.24μm。
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
电子电气产品（环境可靠性）
低温
只测： 温度范围≥-40°C ， 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 2423.10-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
电子电气产品（环境可靠性）
振动
只测： 频 率≤2000Hz 加速度≤10g 位移振幅±12.5mm 最大推力1000N 振动台150mm*150mm
GB/T 2423.17-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾
电子电气产品（环境可靠性）
盐雾
只测： 温度35°C~50°C 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）1200mm*800mm*500mm
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
电子电气产品（环境可靠性）
高温
只测： 温度范围≤110°C ，内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
电子电气产品（环境可靠性）
温度变化
只测： 温度范围-60°C ~105°C 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）650mm*450mm*350mm
GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
电子电气产品（环境可靠性）
恒定湿热
只测： 温度范围-40°C~110°C 湿度范围25~95%RH 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 2423.34-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
电子电气产品（环境可靠性）
交变湿热
只测： 温度范围-40°C~110°C 湿度范围25~95%RH 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 2423.5-2019 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
电子电气产品（环境可靠性）
冲击
只测：加速度≤50g 脉冲宽度≤11ms冲击台200mm*200mm
GB/T 2423.56-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
电子电气产品（环境可靠性）
振动
不测：非高斯振动试验；只测： 频 率≤2000Hz 加速度≤10g 位移振幅±12.5mm 最大推力1000N 振动台150mm*150mm
GB/T 4956-2025 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法
金属材料及制品
涂层厚度
只测：0～26.0μm
GB/T 4957-2025 非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度测量 涡流法
金属材料及制品
涂层厚度
只测：0～26.0μm
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
电子设备用机电元件
接触故障
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
电子设备用机电元件
接触电阻
只测：交流测量。
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
电子设备用机电元件
绝缘电阻
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
电子设备用机电元件
耐电压
GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法第3部分: 载流容量试验
电子设备用机电元件
温升
GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分：动态应力试验
电子电气产品（环境可靠性）
冲击
只测：加速度≤50g 脉冲宽度≤11ms冲击台200mm*200mm
GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分：动态应力试验
电子电气产品（环境可靠性）
振动
只测： 频 率≤2000Hz 加速度≤10g 位移振幅±12.5mm 最大推力1000N 振动台150mm*150mm
GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验
电子设备用机电元件
耐久寿命
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和焊接试验
电子电气产品（环境可靠性）
低温
只测： 温度范围≥-40°C ， 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和焊接试验
电子电气产品（环境可靠性）
恒定湿热
只测： 温度范围-40°C~110°C 湿度范围25~95%RH 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和焊接试验
电子电气产品（环境可靠性）
温度变化
只测： 温度范围-60°C ~105°C 内箱内部最大尺寸（长*宽*高）650mm*450mm*350mm
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和焊接试验
电子电气产品（环境可靠性）
高温
只测： 温度范围≤110°C ，内箱内部最大尺寸（长*宽*高）600mm*850mm*800mm
GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
电子设备用机电元件
拔出力
只测：荷重元≤1kN。
GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
电子设备用机电元件
插入力
只测：荷重元≤1kN。
GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分：杂项试验
电子设备用机电元件
电容测量