检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GB/T 10125-2021 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验
电子电气产品
盐雾试验
只测：铜加速乙酸盐雾试验，箱内尺寸（长*宽*高）90cm*60cm*50cm
GB/T 10610-2009 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 评定表面结构的规则和方法
电子电气产品
粗糙度
只测：Ra
GB/T 11186-2025 涂膜颜色测量方法
涂膜
颜色
GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
金属材料及其制品
覆盖层厚度
只用：吸收方法
GB/T 228.1-2021 金属材料 拉伸试验 第1部分：室温试验方法
金属材料及其制品
室温拉伸试验
只用：方法A，只测：抗拉强度，载荷≦50kN；规定塑性延伸强度、断后伸长率。
GB/T 232-2024 金属材料弯曲试验方法
金属材料及其制品
弯曲试验
只测：支辊式弯曲装置
GB/T 23987.3-2025 色漆和清漆 实验室光源曝露方法 第3部分：荧光紫外灯
涂膜
紫外线老化
只用：方法A，只测：UVA-340
GB/T 2423.17-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾
电子电气产品
盐雾试验
只测：箱内尺寸（长*宽*高）110cm*85cm*60cm
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
电子电气产品
高温试验
只测：试验Bb，温度范围+30°C～+125°C，箱内尺寸(长*宽*高)80cm*60cm*85cm
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
电子电气产品
温度变化试验
只测：试验Na，温度范围-65°C～+150°C，箱内尺寸（长*宽*高）65cm*67cm*46cm
GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
电子电气产品
恒定湿热试验
只测：箱内尺寸（长*宽*高）80cm*60cm*85cm
GB/T 25134-2010 锻压制件及其模具三维几何量光学检测规范
锻压制件及其模具
三维几何量光学检测
不测：工业近景摄影测量
GB/T 2680-2021 建筑玻璃 可见光透射比、太阳光直接透射比、太阳能总透射比、紫外线透射比及有关窗玻璃参数的测定
建筑玻璃
透射比(可见光透射比、太阳光直接透射比、紫外线透射比、太阳红外热能总透射比）
其中5.13条款只测780~2500nm波长范围内的太阳光直接透射比，采用 5.13中式（30）计算。只检“非钢化玻璃150mm*150mm以下"，只测单层玻璃。
GB/T 31225-2014 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
电子电气产品
椭圆偏振法薄层厚度
GB/T 3177-2009 产品几何技术规范（GPS） 光滑工件尺寸的检验
电子电气产品
尺寸
GB/T 33352-2024 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
电子电气产品
铅、汞、镉、总铬、总溴
不测金属材料中的总溴
GB/T 37861-2019 电子电气产品中卤素含量的测定 离子色谱法
电子电气产品
氯、溴
GB/T 3979-2008 物体色的测量方法
电子电气产品
透射物体色
只用光谱光度测色法测试透射物体色
GB/T 4340.1-2024 金属材料 维氏硬度试验 第1部分：试验方法
金属材料及其制品
维氏硬度试验
只测：HV0.5、HV1
GB/T 6394-2017 金属平均晶粒度测定方法
金属材料及其制品
平均晶粒度
只用：直线截点法
GB/T 6462-2025 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
金属材料及其制品
覆盖层厚度
GB/T 7999-2015 铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法
铝及铝合金
硅、铁、锰、铬、镁、铜、锌、钛
只测：Si：（0.05～1.5）%；Fe：（0.05～0.4）%；Cu：（0.05～1.0）%；Mn：（0.01～1.2）%；Mg：（0.005～2.7）%；Cr：（0.003～0.3）%；Zn：（0.003～5.5）%；Ti：（0.003～0.08）%
GB/T 9286-2021 色漆和清漆 划格试验
涂膜
划格试验
只用：手动法切割涂层
GB/T 17359-2023 微束分析 原子序数不小于11的元素能谱法定量分析
电子产品结构件
能谱分析
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范(GPS) 几何公差 检测与验证
电子电气产品
尺寸
JC/T 2130-2012 移动电子产品视屏盖板玻璃
电子电气产品
可见光透射比
只测：可见光透射比
JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
电子产品结构件
微观形貌分析