检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
汽车电子、光学零部件
低温
只测：温度范围：-40℃~常温，箱体内部尺寸≤1000mmx1000mmx1000mm
GB/T 2423.10-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
汽车电子、光学零部件
振动（正弦）
最大试验负载：50 kg;频率范围：5~2000Hz；加速度：0.2~10 g
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
汽车电子、光学零部件
高温
只测：温度范围：常温~150℃， 箱体内部尺寸: ≤1000mmx1000mmx1000mm
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
汽车电子、光学零部件
温度变化
只测：试验 Na、Nb，温度范围：-40℃~150℃ ；箱体内部尺寸≤1000mmx1000mmx1000mm
GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
汽车电子、光学零部件
恒定湿热试验
只测：温度范围：30℃~85℃ 湿度范围：85％RH ~93％RH ，箱体内部尺寸≤1000mmx1000mmx1000mm
GB/T 2423.56-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
汽车电子、光学零部件
宽带随机振动
GB/T 2423.7-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ec：粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样品）
汽车电子、光学零部件
自由跌落
只测：自由跌落-方法1，跌落高度：500mm~1500mm
GB/T 4208-2017 外壳防护等级（IP代码）
汽车电子、光学零部件
外壳防护等级
只测：IPX7,IPX9