检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024 静电放电敏感性试验 人体模型 （HBM） 设备级别
发光二极管(LED)
静电放电试验(人体模式)
ANSI/IES LM-80-21 固态光源光输出特性维持率的测量
LED封装
光度和电气测量
只测：功率不大于5W的SMD封装器件； 不测：辐射通量和光子通量。
ANSI/IES LM-80-21 固态光源光输出特性维持率的测量
LED封装
维持率试验
只测：光通量维持率；功率不大于5W的SMD封装器件。
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
主波长
只测:（380～780）nm
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
反向电流
只测：(0～1)A
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
峰值波长
只测:（380～780）nm
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
平均发光强度
只测：光强范围2mcd～50cd；CIE标准条件B：100mm
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
总光通量
只测：光通量范围：10mlm～25klm；6.2.2.1 总光通量测量（积分球法）
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
正向电压
只测：（0～200）V
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
正向电流
只测：(0～1)A
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
色品坐标
CIE 127:2007 LED测试方法
发光二极管(LED)
色温
GB/T 17626.2-2018 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
发光二极管(LED)、LED模组
静电放电试验
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
发光二极管(LED)、LED模组
低温试验
只测：试验箱工作室尺寸：1000mm×1000mm×1000mm（宽×高×深），温度范围：（-60～0）℃
GB/T 2423.10-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
发光二极管(LED)、LED模组
振动测试
只测；最大载荷250kg，频率范围5Hz-2000Hz，最大位移10mm，加速度0.5g～20g。
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
发光二极管(LED)、LED模组
高温试验
只测：试验箱工作室尺寸：1000mm×1000mm×1000mm（宽×高×深），温度范围：（25～150）℃
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
发光二极管(LED)、LED模组
温度变化试验
只测：试验箱工作室尺寸：600mm×600mm×550mm（宽×深×高），温度范围：（-60～140）℃，7 试验Na：规定转换时间的快速温度变化
GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
发光二极管(LED)、LED模组
恒定湿热试验
只测：试验箱工作室尺寸：1000mm×1000mm×1000mm（宽×高×深）
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h 循环）
发光二极管(LED)、LED模组
交变湿热试验
只测：试验箱工作室尺寸：1000mm×1000mm×1000mm（宽×高×深）
GB/T 2423.56-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
发光二极管(LED)、LED模组
振动测试
只测；最大载荷250kg，频率范围5Hz-2000Hz，最大位移10mm，加速度0.185g～6.149g。
JEDEC JESD22-B103B.01 变频振动测试
发光二极管(LED)、LED模组
振动测试
只测；最大载荷250kg，频率范围5Hz-2000Hz，最大位移10mm，正弦扫频加速度0.5g～20g，随机振动加速度0.185g～6.149g。
JESD51-51A:2022 实现电学测试方法测量暴露冷却的发光二极管的真实热阻和阻抗
发光二极管(LED)
结温
MIL-STD-883K:2016 微电子器件试验方法
发光二极管(LED)
内部检查
MIL-STD-883K:2016 微电子器件试验方法
发光二极管(LED)
外部检查
MIL-STD-883K:2016 微电子器件试验方法
发光二极管(LED)
横截面
MIL-STD-883K:2016 微电子器件试验方法
发光二极管(LED)
电性能确认
MIL-STD-883K:2016 微电子器件试验方法
发光二极管(LED)
附加电试验