检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
AEC - Q100-004 - Rev-D 集成电路闩锁测试
汽车电子
闩锁效应（LU）
AEC - Q100-011 - Rev-D：2019 带电器件模型(CDM)静电放电试验
汽车电子
静电放电-荷电模式
AEC Q003A：2013 集成电路特性的导则
汽车电子
特性描述（CHAR）
AEC Q003A：2013 集成电路特性的导则
汽车电子
电分配（ED）
AEC Q003A：2013 集成电路特性的导则
汽车电子
绑线剪切（WBS）
AEC Q003A：2013 集成电路特性的导则
汽车电子
绑线拉力（WBP）
AEC Q003A：2013 集成电路特性的导则
汽车电子
锡球剪切（SBS）
AEC Q100-005D1:2012 非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命
汽车电子
非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命（EDR）
AEC Q100-010A 焊锡球剪切试验
汽车电子
锡球剪切（SBS）
AEC Q100-012 12v系统智能电源器件短路可靠性表征
汽车电子
短路特性（SC）
AEC-Q100- Rev-J：2023 基于集成电路失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
高压釜测试（AC）
AEC-Q100-002-Rev-E：2013 人体模型静电放电试验
汽车电子
静电放电-人体模型
AEC-Q100-008-Rev-A 早期失效率
汽车电子
高温寿命试验
只测：85℃~150℃
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
功率温度循环
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
包装跌落（DROP）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
变频振动（VFV）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
恒定加速（CA）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
故障等级（FG）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
无偏温湿度测试（TH）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
无偏高加速应力测试（UHST）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
有偏温湿度测试（THB）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
有偏高加速应力测试（HAST）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
机械冲击（MS）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
测试前后参数/功能测试（TEST）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
温度循环测试（TC）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
特性描述（CHAR）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
电分配（ED）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
短路特性（SC）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
粗/细检漏测试（GFL）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
绑线剪切（WBS）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
绑线拉力（WBP）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
锡球剪切（SBS）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
闩锁效应（LU）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
静电放电-人体模型
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
静电放电-荷电模式
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命（EDR）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
预处理（PC）
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
高温寿命试验
只测：85℃~150℃
AEC-Q100-Rev-J：2023 基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证
汽车电子
高温贮存寿命
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
功率温度循环（PTC）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
变频振动（VFV）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
无偏高加速应力测试（UHST）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
有偏高加速应力测试（HAST）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
机械冲击（MS）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
测试前后参数/功能测试（TEST）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
温度循环分层测试（TCDT）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
温度循环测试（TC）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
温度循环热测试（TCHT）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
预处理（PC）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
高压釜测试（AC）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
高温栅极偏置（HTGB）
AEC-Q101-Rev-E：2021 汽车应用中分立半导体基于应力测试认证的失效机理
汽车用分立器件
高湿高温反向偏置测试（H3TRB）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
功率温度循环
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
变频振动（VFV）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
恒定加速（CA）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
故障等级（FG）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
无偏温湿度测试（TH）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
无偏高加速应力测试（UHST）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
早期失效率（ELFR）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
有偏温湿度测试（THB）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
有偏高加速应力测试（HAST）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
机械冲击（MS）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
测试前后参数/功能测试（TEST）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
温度循环测试（TC）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
特性描述（CHAR）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
电分配（ED）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
粗/细检漏测试（GFL）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
绑线剪切（WBS）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
绑线拉力（WBP）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
闩锁效应（LU）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
静电放电-人体模型
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
静电放电-荷电模式
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命（EDR）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
预处理（PC）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
高压釜测试（AC）
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
高温寿命试验
只测：85℃~150℃
AEC-Q104-Rev-：2017 基于多芯片组件（MCM）失效机理的应力测试认证要求
汽车电子
高温贮存寿命
AECQ100-001C:1998 绑线剪切测试
汽车电子
绑线剪切（WBS）
AECQ100-007B：2007 故障模拟和故障分级
汽车电子
故障等级（FG）
AECQ100-009B:2007 电分配评估
汽车电子
电分配（ED）
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
CPU架构兼容要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
中文支持要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
交付与服务要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
可靠性要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
常用软硬件支持要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
应用开发支持要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
服务支持要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
系统内核要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
系统安全要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
系统安装要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
系统管理要求
CESA-STM-001-2024 安全可靠 服务器操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 服务器操作系统
虚拟化支持
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
CPU架构兼容要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
中文支持要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
交付与服务要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
可靠性要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
常用软硬件支持要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
应用开发支持要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
用户界面要求
CESA-STM-002-2024 安全可靠 微型计算机操作系统技术要求测试方法集
安全可靠 微型计算机操作系统
系统内核要求