检测标准
检测对象
参数 / 项目
限制说明
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通态漏电流
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通态漏电流
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻路差
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻路差
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻路差率
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
导通电阻路差率
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
截止态源极漏电流
只测: 电流范围 (-200mA~200mA)
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
截止态源极漏电流
只测: 电流范围 (-200mA~200mA)
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
截止态漏极漏电流
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
截止态漏极漏电流
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
模拟电压工作范围
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
模拟电压工作范围
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输入低电平电流IIL
只测:300mA~+300mA
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输入低电平电流IIL
只测:300mA~+300mA
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输入高电平电流IIH
只测:300mA~+300mA
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输入高电平电流IIH
只测:300mA~+300mA
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输出低电平电压VOL
只测:2V~+6.5V
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输出低电平电压VOL
只测:2V~+6.5V
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输出高电平电压VOH
只测:2V~+6.5V
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
输出高电平电压VOH
只测:2V~+6.5V
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
静态工作电源电流
只测:1A~+1A
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
模拟开关
静态工作电源电流
只测:1A~+1A
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
复位电压
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
复位电压
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
复位电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
复位电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
控制端电压
只测: 电压范围 (-40V~40V)
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
控制端电压
只测: 电压范围 (-40V~40V)
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
最高振荡频率
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
最高振荡频率
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
触发电压
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
触发电压
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
触发电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
触发电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
阈值电压
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
阈值电压
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
阈值电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
阈值电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
静态电源电流
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
时基电路
静态电源电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
反向峰值电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
反向峰值电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
断态电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
断态电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
维持电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
维持电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
通态电压
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
通态电压
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
门极触发电压
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
门极触发电压
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
门极触发电流
GB/T 15291-2015 半导体器件第6部分:晶闸管
晶闸管
门极触发电流
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
开关接触电阻
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
开关接触电阻
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
电阻体阻值
只测: 阻值范围 (0mΩ~100MΩ)
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
电阻体阻值
只测: 阻值范围 (0mΩ~100MΩ)
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
终端阻值
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
终端阻值
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
绝缘电阻
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
绝缘电阻
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
耐电压
GB/T 15298-1994 电子设备用电位器第一部分:总规范
电位器
耐电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入低电平电流
只测: 电流范围 (-40~40)mA
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入低电平电流
只测: 电流范围 (-40~40)mA
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入滞后电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入滞后电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入钳位电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入钳位电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入阈值电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入阈值电压
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入高电平电流
只测: 电流范围 (-40~40)mA
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输入高电平电流
只测: 电流范围 (-40~40)mA
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出低电平电压
只测: 电压范围 (-2~6.5)V
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出低电平电压
只测: 电压范围 (-2~6.5)V
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出短路电流
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出短路电流
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出高电平电压
只测: 电压范围 (-2~6.5)V
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出高电平电压
只测: 电压范围 (-2~6.5)V
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出高阻态电流
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
输出高阻态电流
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
静态条件下的电源电流
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字集成电路
静态条件下的电源电流
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通态漏电流
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通态漏电流
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通电阻
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通电阻
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通电阻路差
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通电阻路差
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通电阻路差率
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
导通电阻路差率
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
截止态源极漏电流
只测: 电流范围 (-200mA~200mA)
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
截止态源极漏电流
只测: 电流范围 (-200mA~200mA)
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
截止态漏极漏电流
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
截止态漏极漏电流
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
模拟电压工作范围
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
模拟开关
模拟电压工作范围
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
电压调整器
基准电压
只测: 电压范围 (-40V~40V)
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
电压调整器
基准电压
只测: 电压范围 (-40V~40V)